VAN WAVEREN SYSTEMS
Untersuchung
Wie wir arbeiten
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Unter dem Mikroskop
Untersuchungen bei
Wo wir gewesen sind
View of surface
1A - Analyse durch mikroskopische Untersuchung
Aufsicht auf einen Einschluss an der Oberfláche.
Cross-section through a transparent particle in the CC
1B - Querschnitt durch einen transparenten Partikel im CC.
Dieser Partikel ist sehr wahrscheinlich ein ausgehárteter 2K CC Partikel.
View of an inclusion
2A - Analyse durch mikroskopische Untersuchung
Aufsicht auf eine leichte Erhebung, die im BC sichtbar ist.
Cross-section through a metal-particle in the EC
2B - Querschnitt durch ein Metallteil im KTL.
Ob sich dieses Metallteil schon auf dem Untergrund befand, oder mit dem KTL mitgeführt worden ist, ist nicht deutlich.
View of an inclusion visible under the surface
3A - Analyse durch mikroskopische Untersuchung
Aufsicht, lángeres, bandförmiges Teil unter dem BC.
The blue spot is a reflection of light.
Cross-section.
3B - An dieser Stelle ist der Füller mechanisch beschádigt worden.
Spáter wurde diese Stelle dann mit BC und CC überlackiert.
View of surface above an inclusion.
4A - Analyse durch mikroskopische Untersuchung.
Sicht auf die Oberfláche über einem Einschluss.
Cross-section through a metal-particle in the EC.
4B - Analyse durch mikroskopische Untersuchung.
Querschnitt durch den Einschluss im KTL Elektrocoat Metallpartikel.
View of surface
5 - Analyse durch mikroskopische Untersuchung
Querschnitt durch ein Coatings System. Faser im Primer
Cross-section of a sealing particle in the filler
6 - Analyse durch mikroskopische Untersuchung.
Querschnitt durch einen Sealer-Partikel ( Feinnahtabdichtung) im Primer.
Cross-section of an unknown particle in the filler.
7 - Analyse durch mikroskopische Untersuchung.
Einschluss im Füller, unbekannter Partikel.
Cross-section of an overspray Agglomerat in the filler.
8 - Analyse durch mikroskopische Untersuchung.
Kunststoff Substrat. Einschluss im Füller, Overspray Agglomerat.
Photographs
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